ÖVE/ÖNORM EN 61000-4-20 - Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) - Teil 4-20: Prüf- und Messverfahren - Messung der Störaussendung und Störfestigkeit in transversal-elektromagnetischen (TEM-)Wellenleitern (IEC 61000-4-20:2010)
Ausgabedatum
2012-10-01
Norm-beschreibende Schlagwörter
Normenart
STANDARD
Norm-Nummer
ÖVE/ÖNORM EN 61000-4-20
Norm-Titel, deutsch
Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) - Teil 4-20: Prüf- und Messverfahren - Messung der Störaussendung und Störfestigkeit in transversal-elektromagnetischen (TEM-)Wellenleitern (IEC 61000-4-20:2010)
Vorgänger-Norm
ÖVE/ÖNORM EN 61000-4-20 (2008 05 01) ÖVE/ÖNORM EN 61000-4-20 (2011 08 01) ÖVE/ÖNORM EN 61000-4-20 (2011 08 01)
Norm-Titel, englisch
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides (IEC 61000-4-20:2010)
Norm-Titel, französisch
Compatibilité électromagnétique (CEM) - Partie 4-20: Techniques d'essai et de mesure - Essais d'émission et d'immunité dans les guides d'onde (TEM) (CEI 61000-4-20:2010)
gültig ab
2012-10-01
internat. Übereinstimmung
IEC 61000-4-20 (2010 08) , ident EN 61000-4-20 (2010 11) , ident EN 61000-4-20/Berichtigung 1 (2012 09) , ident
Dieser Teil der IEC 61000 legt Verfahren für die Messung der Störaussendung und Prüfung der Störfestigkeit von elektrischen oder elektronischen Geräten (Einrichtungen) fest, wobei verschiedene Arten von transversal-elektromagnetischen (TEM-)Wellenleitern verwendet werden. Diese schließen offene Strukturen (z. B. Streifenleiter und Simulatoren für den elektromagnetischen Puls (EMP-Simulatoren)) und geschlossene Strukturen (z. B. TEM-Zellen) ein. Diese Strukturen können weiter in Ein-, Zwei- oder Vieltor-TEM-Wellenleiter unterteilt werden. Der Frequenzbereich hängt von den speziellen Prüfanforderungen und dem speziellen Typ des TEM-Wellenleiters ab. Zweck dieser Norm ist zu beschreiben: - die Eigenschaften von TEM-Wellenleitern einschließlich typischer Frequenzbereiche und Anwendungsgrenzen in Bezug auf die Abmessungen des Prüflings; - Verfahren zur Eignungsprüfung von TEM-Wellenleitern für EMV-Prüfungen; - die Definition des Prüflings (d. h. des Prüflingsgehäuses und der Verkabelung); - Messaufbauten, -ver
Seitenanzahl der Norm
81
zitierte Normen
IEC 60050-161:1990 IEC 61000-2-11:1999 IEC 61000-4-23 IEC/TR 61000-4-32 IEC/TR 61000-5-3 IEC/CISPR 16-1-1 IEC/CISPR 16-1-4 IEC/CISPR 16-2-3:2006 IEC/CISPR 22 EN 61000-4-23 EN 55016-1-1 EN 55016-1-4 EN 55016-2-3:2006 EN 55022