ÖVE/ÖNORM EN 62132-2 - Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 62132-2:2010) (deutsche Fassung)
Ausgabedatum
2011-08-01
Norm-beschreibende Schlagwörter
Normenart
STANDARD
Norm-Nummer
ÖVE/ÖNORM EN 62132-2
Norm-Titel, deutsch
Integrierte Schaltungen - Messung der elektromagnetischen Störfestigkeit - Teil 2: Messung der Störfestigkeit bei Einstrahlungen - TEM-Zellen- und Breitband-TEM-Zellenverfahren (IEC 62132-2:2010) (deutsche Fassung)
Vorgänger-Norm
ÖVE/ÖNORM EN 62132-2 (2008 08 15)
Norm-Titel, englisch
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity - TEM cell and wideband TEM cell method (IEC 62132-2:2010) (german version)
Norm-Titel, französisch
Circuits intégrés - Mesure de l'immunité électromagnétique - Partie 2: Mesure de l'immunité rayonnée - Méthode de cellule TEM et cellule TEM à large bande (CEI 62132-2:2010) (version allemande)
Die vorliegende ÖVE/ÖNORM EN legt ein Verfahren zur Messung der Störfestigkeit einer integrierten Schaltung (IC) gegen hochfrequente (HF) elektromagnetische Störstrahlung fest. Der Frequenzbereich dieses Verfahrens reicht von 150 kHz bis 1 GHz oder wird durch die Grenzen der Kennwerte der TEM-Zelle festgelegt.
Seitenanzahl der Norm
26
zitierte Normen
IEC 60050-131:2001 IEC 60050-161:1990 IEC 61967-2 IEC 62132-1:2006 EN 61967-2 EN 62132-1:2006